На Иссык-Куле прошел международный семинар по патентному анализу.

Представители национальных патентных ведомств Армении, Азербайджана, Беларуси, Казахстана, Кыргызстана, Таджикистана, Туркменистана, Узбекистана представили краткие доклады об основных статистических показателях национальных патентных процедур и о подходах в ведомствах к работе с патентной аналитикой.

Участники мероприятия ознакомились с последними тенденциями развития методологии анализа патентной информации на основе статистической обработки данных, новейшими инструментами визуализации и обмена информацией.

В работе семинара также приняли участие сотрудники аппарата Жогорку Кенеша, министерств, ведомств, бизнес-сообщества, изобретатели.

Организатором выступил Кыргызпатент совместно со Всемирной организацией интеллектуальной собственности (ВОИС) и Евразийской патентной организацией (ЕАПО).